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Huber+Suhner News

Huber+suhner Wird Herausragende Hf-lösungen Für Test- Und Messtechnik Auf Designcon 2020 Präsentieren

HUBER+SUHNER, führender Hersteller von Komponenten und Systemen für die elektrische und optische Verbindungstechnik, präsentiert seine jüngsten Innovationen für die sich stets wandelnden Herausforderungen der Test- und Messtechnik auf der DesignCon 2020 in Santa Clara, Kalifornien.

Vega News

Neues Jahr – Neue Sensoren

VEGA bringt drei neue Produktserien auf den Markt.

HARTING News

Han® 1A: Erster modularer Industrie-Steckverbinder seiner Klasse

Der Han® 1A bietet ein kompaktes, robustes und universal einsetzbares Rechteck-Steckverbindersystem zur Übertragung in allen Lebensadern der Industrie 4.0 (Daten, Leistung, Signale). Anwender können daraus mit geringem Lagerbestand alle nötigen Schnittstellen z.B. für kleine bis mittlere Antriebe aufbauen.

Rohde & Schwarz

Rohde & Schwarz zeigt auf der embedded world 2020 seine Testlösungen für elektronische Systeme von morgen

Rohde & Schwarz präsentiert auf der Nürnberger Leitmesse der embedded-Branche seine Messtechnik für embedded Designs im Automotive-Bereich, für High-Speed-Digital-Schnittstellen sowie zukunftsweisende Bluetooth®-Messtechnik. Hinzu kommen innovative Lösungen für Leistungs-, EMV- und Power-Integrity-Messungen. Außerdem feiert das Unternehmen zehn Jahre Oszilloskope von Rohde & Schwarz.

Datalogic News

Einzelhändler Sollten Personalisierteres Einkaufserlebnis Bieten: Datalogic Präsentiert Auf Der Euroshop Neue End-to-end-lösungen Für Das Supply Chain- Und Store-management

Wenn die EuroShop vom 16. bis 20. Februar 2020 in Düsseldorf ihre Pforten öffnet, erfahren Einzelhändler, wie sie mit Datenerfassungslösungen von Datalogic die Erwartungen ihrer Kunden bestmöglich erfüllen.

Rohde & Schwarz

Rohde & Schwarz verbessert Signalintegritäts-Debugging mit innovativem Ansatz zur Jitter-Separation für seine Oszilloskope

Eine neue Option für die Oszilloskope R&S RTO und R&S RTP lässt Entwickler tieferen Einblick in die einzelnen Jitter-Komponenten ihrer Übertragungsschnittstelle gewinnen. Jetzt können sie Jitter in zufällige und deterministische Komponenten zerlegen und die Ergebnisse für eine effektive Fehleranalyse flexibel anzeigen. Der Algorithmus von Rohde & Schwarz verwendet ein parametrisches Signalmodell für genaue Messungen und zusätzliche Ergebnisdarstellungen.

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