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Automobil-40V-Leistungs-MOSFET für hochdichte Systeme

Toshiba stellt eine AEC-Q101-konforme Halbleiterkomponente vor, die zur Verbesserung der Wärmeableitung und mechanischen Zuverlässigkeit in Fahrzeugwechselrichtern und Motortreibern entwickelt wurde.

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Automobil-40V-Leistungs-MOSFET für hochdichte Systeme

Toshiba hat den XPJ1R504PB auf den Markt gebracht, einen 40V-N-Kanal-Leistungs-MOSFET in Automobilqualität, der für die hochdichte Montage in 12V-Fahrzeugsystemen entwickelt wurde. Diese Halbleiter-Hardware zielt auf ein zuverlässiges Energiemanagement in Automobilwechselrichtern, Halbleiterrelais und Frequenzumrichtern ab.

Gehäusearchitektur und Wärmemanagement
Mit der zunehmenden Elektrifizierung von Automobilplattformen erfordern Komponenten wie Frequenzumrichter und Motortreiber ein optimiertes Wärmemanagement und geringe Leistungsverluste. Der neu eingeführte MOSFET verwendet ein spezielles oberflächenmontierbares Gehäuse, das eine kompakte, hochdichte Platinenintegration ermöglicht und gleichzeitig eine hohe Wärmeableitungsfähigkeit beibehält. Durch die Verwendung eines dicken Kupferrahmens reduziert das Gehäuse die transiente thermische Impedanz zwischen Kanal und Gehäuse auf 0,76 °C/W. Diese thermische Eigenschaft verringert Leitungsverluste, begrenzt die Gesamtwärmeerzeugung und verbessert strukturell die Effizienz von automobilen Stromversorgungssystemen.

Mechanische Zuverlässigkeit und elektrischer Widerstand
Automobilelektronik arbeitet in weiten und schwankenden Temperaturbereichen, was die mechanische Integrität der Lötverbindungen auf Leiterplatten kritisch macht. Um dies zu adressieren, verfügt die Hardware über Gull-Wing-Pins (Möwenflügel-Anschlüsse), die Montagespannungen absorbieren und so die langfristige Zuverlässigkeit der Lötverbindungen unter thermischer Wechselbeanspruchung verbessern. Darüber hinaus verfügt das Bauteil über eine pinlose interne Struktur, die die Source-Elektroden-Verbindung direkt mit den externen Leitern des Chips integriert.

Diese architektonische Entscheidung minimiert den parasitären Widerstand, sodass das Bauteil einen maximalen Einschaltwiderstand von 1,54 mΩ bei einer Gate-Source-Spannung von 10 V erreichen kann. Darüber hinaus optimiert eine Multi-Pin-Struktur für die Source-Leiter die Stromverteilung, wodurch das System in Hochleistungsanwendungen zuverlässig Lasten von bis zu 120 A bewältigen kann.

Zusätzlicher Kontext
Dieser Abschnitt beschreibt technische Spezifikationen und Wettbewerbs-Benchmarking, die in der ursprünglichen Pressemitteilung nicht enthalten waren.

Auf dem Markt für Automobil-Leistungshalbleiter werden 40V-N-Kanal-MOSFETs hauptsächlich anhand von Einschaltwiderstand, thermischer Impedanz und der mechanischen Zuverlässigkeit des Gehäuses unter starken thermischen Wechselbeanspruchungen verglichen. Das Toshiba S-TOGL-Gehäuse konkurriert direkt mit Gull-Wing-Gehäusen wie der LFPAK-Serie von Nexperia und anschlusslosen (leadless) Designs wie der sTOLL-Architektur (Small TO-Leadless) von Infineon. Während traditionelle anschlusslose Gehäuse eine niedrige Induktivität und hohe Stromdichte bieten, sorgt die Integration von Gull-Wing-Pins in den S-TOGL- und LFPAK-Architekturen für eine überlegene Absorption mechanischer Spannungen, die durch die unterschiedlichen Wärmeausdehnungskoeffizienten von Leiterplatte und Bauteil verursacht werden. Mit einem Einschaltwiderstand von 1,54 mΩ und einem Nennstrom von 120 A ist der XPJ1R504PB im mittleren bis hohen Leistungssegment von 12V-Automobilanwendungen wettbewerbsfähig und vereint Flächenreduzierung mit strengen Anforderungen an die Zuverlässigkeit auf Leiterplattenebene.

Bearbeitet von Aishwarya Mambet, Induportals-Redakteurin, mit Unterstützung von KI.

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