Nehmen Sie an unseren 155000 IMP Followern teil

elektronik-news.com

224G-Testlösungen für 1,6T-Glasfasernetze

Keysight Technologies erweitert sein Portfolio um 224G-Testlösungen für die Validierung von 1,6T-Hochgeschwindigkeitsnetzwerken.

  www.keysight.com
224G-Testlösungen für 1,6T-Glasfasernetze

Die optischen DCA-M-Abtastoszilloskope N1096A und N1096B ermöglichen Entwicklern die Charakterisierung von optischen Multimode-Signalen mit 224 Gbit/s und unterstützen damit die Entwicklung optischer Verbindungstechnologien der nächsten Generation.

Mit neuen 224G-Testlösungen adressiert Keysight die steigenden Anforderungen an die Validierung elektrischer und optischer Schnittstellen für 1,6T-Glasfasernetzwerke.

Getrieben durch KI-Workloads entwickeln sich Rechenzentrumsarchitekturen zunehmend hin zu 224G-Signalleitungen und hochperformanten Optikmodulen. Dies stellt Entwickler vor Herausforderungen wie:

  • Signalintegrität bei extremen Datenraten
  • strengere Konformitätsanforderungen
  • reproduzierbare Tests für die Serienfertigung

Durchgängige Lösungen von R&D bis Produktion
Die neuen Lösungen basieren auf der Digital Communication Analyzer-Plattform und ermöglichen eine durchgängige Validierung über den gesamten Entwicklungszyklus hinweg – von der ersten Charakterisierung bis zur Serienfertigung.

Sie unterstützen Systeme gemäß dem Standard IEEE 802.3dj und helfen Entwicklern, schneller zur Konformitätsreife zu gelangen.

Optische 224G-Validierung
Die Softwarelösung N1095DJCA ermöglicht die normgerechte Prüfung optischer Transmitter.

Wichtige Funktionen:

  • Analyse von TDECQ- und TDECQ-CER-Kennzahlen
  • automatisierte Charakterisierung von 1,6T-Transceivern
  • hochpräzise Messungen bei 224 Gbit/s
  • schnelle Erstellung detaillierter Prüfberichte

Dies reduziert Debugging-Zeiten und verbessert die Messgenauigkeit in Entwicklungs- und Vorproduktionsphasen.

Elektrische 224G-Validierung
Mit der Anwendung N1091DJPA bietet Keysight eine Lösung für die elektrische Charakterisierung von Transmittern.

Vorteile:

  • geführte Workflows für schnellere Testeinrichtung
  • präzise Analyse von Halbleiter-Prototypen und ASICs
  • Ermittlung von Sicherheitsmargen und Fehlerursachen

Die Lösung nutzt das Breitband-Abtastoszilloskop der DCA-X-Serie sowie DCA-M-Module zur Taktrückgewinnung.

Multimode-Messlösungen für KI-Infrastruktur
Das N1096 Multimode-DCA-M-Abtastoszilloskop unterstützt PAM4-Messungen mit bis zu 224 Gbit/s (112 GBd).

Damit ermöglicht es:

  • die Entwicklung von Multimode-Glasfaserlösungen
  • die Validierung von 1,6T-Verbindungen
  • eine schnellere Überführung von R&D in die Produktion

Grundlage für zukünftige KI-Rechenzentren
Mit den neuen Testlösungen bietet Keysight eine skalierbare Plattform, die elektrische und optische Validierung vereint. Entwickler können damit:

  • Designrisiken reduzieren
  • Entwicklungszeiten verkürzen
  • zuverlässige Hochgeschwindigkeitsnetzwerke realisieren

Die Lösungen tragen dazu bei, die nächste Generation von KI-Rechenzentren mit hoher Bandbreite, Zuverlässigkeit und Effizienz zu ermöglichen.

Bearbeitet von dem Industriejournalisten Lekshman Ramdas, mit Unterstützung von KI.

www.keysight.com

  Fordern Sie weitere Informationen an…

LinkedIn
Pinterest

Nehmen Sie an unseren 155000 IMP Followern teil